局部放电检测仪常见的十五种波形图谱（二）

  上一期讲了局部放电检测仪常见的十五种波形图谱的前五种，这一期我们来将第六到第十种常见的波形。

  ⑥接触不良的干扰图形。

  波形特点：对称地分布在实验电压零点两侧，幅值大致不变，但在实验电压峰值附近下降为零。波形粗糙不清晰，低电压下即出现。电压升高时，幅值缓慢增加，有时在电压达到一定值后会完全消失。

  原因：实验回路中金属与金属不良接触的连接点；塑料电缆屏蔽层半导体粒子的不良接触；电容器铝箔的插接片等（可将电容器充电然后短路来消除）。

  ⑦可控硅元件的干扰图形。
  波形特点：位置固定，每只元件产生一个独立讯号。电路接通，电磁耦合效应增强时讯号幅值增加，试验调压时，该脉冲讯号会发生高频波形展宽，从而占位增加。

  原因：邻近有可控硅元件在运行。

  ⑧继电器、接触器、辉光管等动作的干扰。

  波形特点：分布不规则或间断出现，同试验电压无关。

  原因：热继电器、接触器和各种火花试验器及有火花放电的记录器动作时产生。

  ⑨荧光灯的干扰图形。

  波形特点：栏栅状，幅值大致相同的脉冲，伴有正负半波对称出现的两簇脉冲组。

  原因：荧光灯照明

  ⑩无线电干扰的干扰图形。

  波形特点：幅值有调制的高频正弦波，同试验电压无关。

  原因：无线电话、广播话筒、载波通讯等。

  下一期我们来讲局部放电检测仪常见的十五种波形图谱的最后五种。